- проверка помехоустойчивости микропроцессорных защит при единичных импульсах переходных процессов в наносекундном диапазоне
-
проверка помехоустойчивости микропроцессорных защит при единичных импульсах переходных процессов в наносекундном диапазоне
-
[В.А.Семенов. Англо-русский словарь по релейной защите]Тематики
- релейная защита
EN
- radiated electromagnetic field test
Справочник технического переводчика. – Интент. 2009-2013.